ПО Thermo Scientific Velox

Расширенная информация

Программное обеспечение Velox для просвечивающей электронной микроскопии

Мультимодальный сбор и анализ данных ПЭМ и СТЕМ

Универсальное программное обеспечение Thermo Scientific Velox было тщательно разработано для предоставления комплексных и передовых возможностей как в просвечивающей (ПЭМ), так и в сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СТЕМ). Оно обеспечивает быстрый и эффективный сбор и анализ мультимодальных данных, гарантируя превосходный контроль над экспериментом, высокую воспроизводимость и производительность для поддержки количественного анализа материалов.

Преимущества программного обеспечения Velox

Быстрое освоение

Интерфейс, адаптирующийся под выбранный режим работы, имеет графическую компоновку, которая упрощает освоение программы и делает работу интуитивно понятной.

Все данные в одной программе

Собирайте изображения и анализируйте данные, используя популярные рабочие процессы, оптимизированные для достижения максимальной производительности.

Профессиональная разработка и поддержка

Получайте доступ к новым функциям и общим улучшениям системы благодаря регулярным обновлениям программного обеспечения.

Расширенные возможности энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии

ПО Velox оптимизировано для проведения энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии благодаря мощному механизму картирования, объединяющему несколько методов для просвечивающей электронной микроскопии. Программное обеспечение предлагает:

• Коррекцию дрейфа «на лету»: обеспечивает точность сбора данных за счет компенсации любого дрейфа образца в режиме реального времени.
• Рекурсивное картирование: повышает качество и разрешение результатов картирования.
• Независимое считывание каналов: позволяет одновременно собирать данные с нескольких каналов детекторов.
• Уникальную коррекцию поглощения с компенсацией держателя: гарантирует прецизионный количественный анализ за счет компенсации эффектов поглощения рентгеновского излучения.

Эти функции помогают получать лучшие в своем классе спектральные изображения ЭДС с высокой производительностью и точной количественной оценкой. ПО Velox специально адаптировано для использования с системами детекторов Thermo Scientific Super-X, Dual-X и Ultra-X, что максимально расширяет возможности ЭДС-анализа.

Широкая поддержка спектроскопии потерь энергии электронов (EELS)

Помимо работы с EDS, программное обеспечение Velox предлагает обширную поддержку метода спектроскопии потерь энергии электронов. ПО обеспечивает простой и точный сбор и анализ данных на спектрометрах и энергетических фильтрах систем Thermo Scientific Iliad (S)TEM, позволяя с уверенностью проводить детальный EELS-анализ.

Оптимизированные рабочие процессы и интуитивно понятный интерфейс

ПО Velox значительно упрощает сложные рабочие процессы благодаря интуитивно понятному пользовательскому интерфейсу. Продуманный дизайн сокращает время освоения передовых методов ПЭМ и СТЕМ, объединяя несколько алгоритмов сбора данных в единый программный пакет. Такая интеграция повышает эффективность научных исследований, позволяя вам больше времени уделять экспериментам и меньше — навигации по программному обеспечению.

Усовершенствованная компенсация дрейфа и интерактивное управление детекторами

ПО Velox включает современные методы компенсации дрейфа, гарантирующие высокое качество изображений и точность карт элементного состава. Интерактивная схема расположения детекторов обеспечивает воспроизводимость и полный контроль над параметрами эксперимента, предоставляя гибкость и прецизионную точность в научных исследованиях. Кроме того, программное обеспечение поддерживает возможность гибкой записи видео в режимах СТЕМ и ПЭМ, что позволяет проводить динамические исследования и детальный анализ быстропротекающих процессов.

Возможности программного обеспечения Velox

ПО Velox разработано для качественного улучшения экспериментов в области материаловедения. Оно обеспечивает прецизионный сбор данных, высокое качество визуализации и оптимизацию рабочих процессов, являясь ценным активом для всех, кто использует передовые методы электронной микроскопии. Velox помогает достигать надежных результатов и делает работу на ПЭМ доступной для широкого круга специалистов.

Бесшовная интеграция данных

С ПО Velox все ваши данные консолидированы на одной программной платформе. Такая интеграция оптимизирует рабочий процесс, позволяя эффективно собирать, анализировать и интерпретировать информацию. Оцените удобство хранения и обработки всех результатов ваших исследований в одном месте.

Компенсация дрейфа

Передовые методы компенсации дрейфа в Velox — такие как интегрирование кадров с коррекцией дрейфа (DCFI) и использование взаимных корреляций при быстром рекурсивном картировании — обеспечивают высокое качество изображений и карт элементного состава.

Интегрированный эргономичный интерфейс

Интуитивно понятный и дружелюбный интерфейс ПО Velox позволяет быстро освоить систему без необходимости в длительном обучении. Все элементы управления сбором данных сгруппированы вместе, что делает работу в любом режиме и рабочем процессе максимально простой и логичной. Кроме того, программное обеспечение предлагает рекомендации для работы в сложных условиях визуализации и содержит стандартную систему индикации перенасыщение камеры в реальном времени.

Интерактивная графическая схема детекторов в реальном времени

Интерактивный интерфейс управления детекторами и автоматическое сохранение метаданных обеспечивают высокий уровень воспроизводимости, контроля над экспериментом и документирования результатов. Кроме того, вы можете легко экспортировать свои данные для дальнейшей работы.

ЭДС-анализ с временным разрешением (Time-resolved EDS)

ПО Velox записывает и сохраняет каждый кадр СТЕМ и ЭДС в едином наборе данных эксперимента. После завершения сбора данных вы можете использовать инструменты удаления кадров для модификации полученного куба данных. Это позволяет минимизировать артефакты, вызванные повреждением образца под пучком, и повысить качество данных во всех ваших визуальных и аналитических экспериментах.

Программное обеспечение для количественного ЭДС-анализа

При выполнении количественного ЭДС-анализа ПО Velox компенсирует эффект экранирования сигнала держателем при наклоне образца и обеспечивает независимое считывание данных с каждого детектора для повышения точности. Система также предоставляет обратную связь в реальном времени во время сбора данных и обеспечивает быструю постобработку ЭДС-результатов, позволяя вам всегда владеть актуальной информацией.

Визуализация всех элементов с высоким контрастом

Благодаря уникальному интегрированному режиму дифференциального фазового контраста (iDPC), ПО Velox обеспечивает одновременную визуализацию легких и тяжелых элементов с атомным разрешением при низких дозах облучения. Это позволяет получать изображения чувствительных к пучку материалов в их естественном состоянии.

Дифференциальный фазовый контраст для магнитных материалов

Режим дифференциального фазового контраста (DPC) в программном обеспечении Velox обеспечивает высококонтрастную визуализацию магнитных материалов. Этот режим также позволяет напрямую получать изображения сложных структур, используемых в устройствах хранения данных и электронных компонентах, и идентифицировать различные особенности, включая типы доменных стенок, линии Блоха («хвост к хвосту» и «голова к голове»), толщину стенок и дефекты.

Поворот ПЭМ-изображения в реальном времени

В программном обеспечении Velox вы можете быстро и легко вращать изображение образца с помощью мыши, чтобы выбрать оптимальный ракурс без необходимости извлечения образца из микроскопа. ПО также обеспечивает автоматическую корректировку направления перемещения предметного столика, сохраняя при этом все исходные данные. Обе эти функции делают Velox мощным инструментом настройки для мультимодального сбора данных.

Сбор данных 4D STEM

Метод 4D STEM обеспечивает одновременный сбор всех необходимых данных в рамках одного эксперимента, что позволяет использовать интеллектуальный анализ данных для извлечения требуемой информации. С помощью 4D STEM вы можете получать массивы данных, содержащие полные дифракционные картины для каждой точки сканирования, что открывает возможности для детального пространственного и временного анализа материалов с беспрецедентно высоким разрешением.

Автоматическая фокусировка, коррекция астигматизма, центрирование и наклон

ПО Velox автоматизирует процессы фокусировки, коррекции астигматизма, центрирования и наклона по щелчку мыши, помогая вам максимально эффективно использовать время работы на микроскопе. Программное обеспечение автоматически сохраняет данные для предотвращения их потери, поддерживает экспорт в популярные форматы файлов, а также пакетный экспорт данных.

Одновременный сбор аналитических данных EELS и EDX

Программное обеспечение Velox позволяет одновременно собирать сигналы EDX и EELS с высокой скоростью. Это сводит к минимуму повреждение образца пучком и позволяет получить всю необходимую аналитическую информацию в рамках одного эксперимента.