Order a call

Select a region

Uzbekistan Uzbekistan
menu

Сontact number

Select a region

Uzbekistan Uzbekistan

Select a language

language en
Go back
Select a region
Go back
Select a language

Send request

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom XL G2

Manufacturer:Thermo Fisher Scientific, США

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom XL G2

Manufacturer:Thermo Fisher Scientific, США

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп для анализа и контроля качества.

consult

Send us a request and our experts will help you to understand all the issues of interest.

Технические характеристики
Брошюра с информацией
Расширенное описание

Технические характеристики

Технический параметр

Значение

Изображение

Оптическое увеличение диапазон: 3–16x

Электронное увеличение

диапазон: 160–200,000x

Оптическое освещение

Яркое поле / темное поле

Электронное освещение

Долговечный термионный источник (CeB₆)

есколько токов пучка

Напряжение ускорения

По умолчанию: 5 кВ, 10 кВ и 15 кВ

Режим расширенного режима: настраиваемый диапазон от 4,8 кВ до 20,5 кВ для изображений и анализа

Уровни вакуума

Низкий - средний - высокий

Разрешение

<10 нм

Стандартный детектор

Стандартный детектор отраженных электронов

Дополнительно

Детектор вторичных электронов, детектор спектроскопии с энергодисперсионной разрешающей способностью

Цифровое обнаружение изображения

 

Оптическая Проприетарная высокоразрешающая цветная навигационная камера, снимок в один кадр

Электронное Высокочувствительный детектор отраженных электронов (композиционные и топографические режимы)

Форматы изображения

JPEG, TIFF, PNG

Опции разрешения изображения

960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 и 7680 x 4800 пикселей

Хранение данных

USB-флеш-накопитель, сеть, рабочая станция с SSD

Стол

Компьютеризированный моторизованный стол по X и Y

Система

Габариты и вес

  •  

Модуль изображения

316(шир.) x 587(гл.) x 625(выс.) мм, 75 кг

Вакуумный насос с диафрагмой

145(шир.) x 220(гл.) x 213(выс.) мм, 4.5 кг

Источник питания

260(шир.) x 260(гл.) x 85(выс.) мм, 2.3 кг

Монитор

(24”) 531(шир.) x 180(гл.) x 511(выс.) мм, 5.6 кг

Рабочая станция

Мощная рабочая станция с SSD-накопителем

93(шир.) x 293(гл.) x 290(выс.) мм, 5.6 кг

Размер образца

Макс. 100 мм x 100 мм (до 36 x 12 мм прижимных шипов)

Макс. 40 мм высота (дополнительно до 65 мм)

Область сканирования

50 мм x 50 мм

100 мм x 100 мм (дополнительно)

Время загрузки образца

Оптическое <5 с

 Электронное <60 с

Требования к месту установки и окружающие условия

Температура 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)

Влажность Между 20% и 80% относительной влажности

Электропитание Однофазное переменное ток 100–240 Вольт, 50/60 Гц, среднее потребление 163 Вт, максимальное 348 Вт

Рекомендуемый размер стола

150 x 75 см, нагрузочная способность 150 кг

3.5

EDS

Тип детектора

Детектор с кремниевым дрейфом (SDD)

Термoэлектрическое охлаждение (без LN₂)

Активная площадь детектора

25 мм²

Окно для рентгеновских лучей

Очень тонкое окно из нитрида кремния (Si₃N₄), позволяющее обнаружение элементов от B до Am

Энергетическое разрешение

Mn Kα ≤132 эВ

Возможности обработки

Многоканальный анализатор с 2048 каналами при 10 эВ/канал

Макс. скорость ввода

300,000 cps

Аппаратная интеграция

Полностью встроенная

Программное обеспечение

Интегрировано в пользовательский интерфейс Phenom

Интегрировано управление колонной и стадией

Автоматическое определение пиков

Итеративная деконволюция пиков

Индикатор уверенности анализа

Функции экспорта: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA

Отчет

Формат .doc

Картирование элементов и линейное сканирование

Выбор элементов

Индивидуальные карты, заданные пользователем, плюс изображение обратного рассеяния и смешанное изображение

Изображение обратного рассеяния и смешанный диапазон

Выбранная область

Любой размер, прямоугольная

Диапазон разрешения картирования

32 x 20 до 960 x 600 пикселей

Диапазон времени задержки пикселя

1–500 мс

Диапазон разрешения линейного сканирования

16–512 пикселей

Диапазон времени задержки линейного сканирования

10–500 мс

Отчет

Формат .docx

Вторичный электронный детектор SED

Тип детектора

Everhart Thornley

Автоматизированные движения

В 4 направлениях: Z (высота), R (вращение), T (наклон) и x’ (x-прима)

Максимальный размер образца

Наклон 90° Ø ≤30 мм; высота ≤32 мм

Наклон < 45° Ø ≤70 мм; высота ≤32 мм

Угол наклона

От -15° до +90°

Вращение

Непрерывное 360°

Расширенное описание

Thermo Scientific Phenom XL G2 настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) автоматизирует процесс контроля качества, предоставляя точные, воспроизводимые результаты и освобождая время для выполнения ценной работы.

Простой в освоении интерфейс позволяет быстро начать работу и идеально подходит для широкого спектра применений. Настольный СЭМ Phenom XL G2 обеспечивает полноэкранные изображения и среднее время получения изображения всего 40 секунд, что в три раза быстрее, чем у других настольных СЭМ на рынке. Система может анализировать крупные образцы размером до 100 x 100 мм с разрешением 10 нанометров, отображая все детали. Патентованный механизм вентиляции/загрузки обеспечивает быстрый цикл вентиляции/загрузки, обеспечивая высокую производительность.

Пользовательский интерфейс основан на проверенной простоте использования, уже примененной в успешных настольных СЭМ Thermo Scientific. Интерактивная информационная панель и структура наложения делают работу с СЭМ очень простой, и интерфейс позволяет как опытным, так и новым пользователям быстро ознакомиться с системой с минимальной подготовкой.

Стандартный детектор в настольном СЭМ Phenom XL G2 - это четырехсегментный детектор обратного рассеяния электронов (BSD), который обеспечивает четкие изображения и предоставляет информацию о химическом контрасте. Система может быть оснащена двумя дополнительными детекторами: полностью интегрированной системой энергодисперсионной спектроскопии (EDS) для элементного анализа и детектором вторичных электронов (SED), который позволяет выполнять поверхностно-чувствительную визуализацию. Также доступна платформа приложений ProSuite. С программным обеспечением ProSuite и приложениями, такими как ParticleMetric, PoroMetric, FiberMetric и 3D Roughness Reconstruction, вы можете проводить дополнительный анализ образцов.