Контактный телефон

phone +998712055806
Заказать звонок

Выбрать регион

Узбекистан Узбекистан
menu

Контактный телефон

Выбрать регион

Узбекистан Узбекистан

Выбрать язык

language ru
Вернуться назад
Выбрать регион
Вернуться назад
Выбрать язык

Отправить запрос

Растровый электронный микроскоп Phenom Pharos G2

Производитель:Thermo Fisher Scientific, США

Растровый электронный микроскоп Phenom Pharos G2

Производитель:Thermo Fisher Scientific, США

Настольный высокопроизводительный SEM с электронной пушкой на эффекте полевой эмиссии (FEG)

consult

Отправьте нам заявку и наши специалисты помогут Вам разобраться во всех интересующих вопросах, касательно нашего оборудования и дополнительных услуг.

Технические характеристики
Видеоматериалы
Брошюра c информацией
Расширенное описание

Технические характеристики

 

 

Технический параметр

Значение

Разрешение

  • 2,0 нм (SE), 3 нм (BSE) при 20 кВ
  • 10 нм (SE) при 3 кВ

Диапазон электронного оптического увеличения

  • До 2 000 000x

Оптическое увеличение

  • 27 - 160x

Ускоряющее напряжение

  • По умолчанию: 5 кВ, 10 кВ и 15 кВ
  • Расширенный режим: регулируемый диапазон от 1 до 20 кВ

Вакуумные режимы

  • Режим высокого вакуума
  • Средний вакуумный режим
  • Встроенный режим снижения накопления заряда (режим низкого вакуума)

Детектор

  • Детектор обратно рассеянных электронов (стандартный)
  • Детектор энергодисперсной рентгеновской спектроскопии (EDS) (опция)
  • Детектор вторичных электронов (опция)

Диаметр образца

  • Диаметр до 25 мм (опционально 32 мм)

Высота образца

  • До 35 мм (опционально 100 мм)

 

Видеоматериалы

Брошюра c информацией

Расширенное описание

Уникальный источник полевой эмиссии (FEG)

Уникальный среди настольных SEM, Phenom Pharos G2 FEG-SEM оснащен автоэмиссионным источником электронов, который гарантирует высокую яркость, четкие изображения и стабильный ток луча.

Отличная разрешающая способность

Phenom Pharos G2 FEG-SEM гарантирует 2,0 нм при 20 кВ. Такая производительность разрешает форму наночастиц, недостатки покрытий или другие особенности, которые будут упущены вольфрамовыми РЭМ или другими настольными скандирующими микроскопами.

Деликатная визуализация

С диапазоном напряжения до 1 кВ Phenom Pharos G2 FEG-SEM позволяет снимать чувствительные к электронному лучу образцы, такие как полимеры, а также непроводящие образцы, без необходимости нанесения покрытия. В результате наноструктура на поверхности визуализируются без компромиссов.

Более высокая производительность

В то время как FEG SEM имеют репутацию труднодоступных и сложных в эксплуатации, Phenom Pharos G2 FEG-SEM буквально требует только рабочего стола и менее одного часа обучения. Студенты-магистры, приглашенные специалисты или другие исследователи, которые обычно не обучены работе с высококачественными FEG SEM, могут легко использовать Phenom Pharos G2 FEG-SEM и получать выдающиеся результаты.

Мир информации

На Phenom Pharos G2 FEG-SEM морфология и состав выявляются ожновременно благодаря детекторам SE, BSE и EDS, встроенным в систему. Для контроля температурного режима или электрических экспериментов доступен ряд держателей образцов.