Растровый электронный микроскоп Phenom Pharos G2

Видеоматериалы

Брошюра c информацией

Расширенное описание

Уникальный источник полевой эмиссии (FEG)

Уникальный среди настольных SEM, Phenom Pharos G2 FEG-SEM оснащен автоэмиссионным источником электронов, который гарантирует высокую яркость, четкие изображения и стабильный ток луча.

Отличная разрешающая способность

Phenom Pharos G2 FEG-SEM гарантирует 2,0 нм при 20 кВ. Такая производительность разрешает форму наночастиц, недостатки покрытий или другие особенности, которые будут упущены вольфрамовыми РЭМ или другими настольными скандирующими микроскопами.

Деликатная визуализация

С диапазоном напряжения до 1 кВ Phenom Pharos G2 FEG-SEM позволяет снимать чувствительные к электронному лучу образцы, такие как полимеры, а также непроводящие образцы, без необходимости нанесения покрытия. В результате наноструктура на поверхности визуализируются без компромиссов.

Более высокая производительность

В то время как FEG SEM имеют репутацию труднодоступных и сложных в эксплуатации, Phenom Pharos G2 FEG-SEM буквально требует только рабочего стола и менее одного часа обучения. Студенты-магистры, приглашенные специалисты или другие исследователи, которые обычно не обучены работе с высококачественными FEG SEM, могут легко использовать Phenom Pharos G2 FEG-SEM и получать выдающиеся результаты.

Мир информации

На Phenom Pharos G2 FEG-SEM морфология и состав выявляются ожновременно благодаря детекторам SE, BSE и EDS, встроенным в систему. Для контроля температурного режима или электрических экспериментов доступен ряд держателей образцов.