Производитель:Thermo Fisher Scientific, США
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр NEXSA G2
Производитель:Thermo Fisher Scientific, США
РФЭС (XPS) Thermo Scientific™ Nexsa G2 предлагает полностью автоматизированный высокопроизводительный анализ поверхности, исследований и разработок или для решения производственных проблем. Интеграция РФЭС (XPS) со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и рамановской спектроскопией позволяет проводить полноценные корреляционный анализ. Nexsa G2 раскрывает потенциал достижений в области материаловедения, микроэлектроники, развития нанотехнологий и многих других приложений.
Технические характеристики
Характеристика |
Значение |
Площадь отбора |
60 x 60 мм |
Тип источника рентгеновского излучения |
Монохромированный, микрофокусированный, маломощный Al K-Alpha |
Размер пятна рентгеновского излучения |
от 10 до 400 мкм (регулируется с шагом 5 мкм) |
Тип анализатора |
Полусферический анализатор с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором |
Профилировавшие по глубине |
Источник одноатомных ионов EX06 для определения глубины или двухрежимный источник ионов MAGCIS |
Дополнительные принадлежности |
ИБП, ISS, КАТУШКИ, рамановский спектрометр iXR, MAGCIS, модуль наклона образца, модуль нагрева образца NX, модуль смещения образца, модуль вакуумной передачи, адаптер для гловбокса |
Вакуумная система |
Два турбомолекулярных насоса с автоматическим титановым сублимационным насосом и форвакуумным |
Видеоматериалы
Расширенное описание
Высокая производительность РФЭС благодаря стандартным функциям:
Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения
Оптимизированная электронная оптика
Просмотр образцов
Анализ изоляторов
Цифровое управление
Модуль нагревателя образцов NX
Опциональные методики: Добавьте к вашему анализу любой из интегрированных и полностью автоматизированных методов. Запуск одним нажатием кнопки.
ISS: Спектроскопия рассеяния ионов - это метод, при котором пучок ионов рассеивается поверхностью
UPS: Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия относится к измерению спектров кинетической энергии фотоэлектронов, испускаемых молекулами, которые поглотили ультрафиолетовые фотоны, с целью определения энергии молекулярных орбиталей в валентной области
Раман: Спектроскопический метод, используемый в химии для получения структурного отпечатка пальца
REELS: Спектроскопия потерь энергии электронов при отражении
Режим SnapMap
Сфокусируйте объекты на образце с помощью оптического представления SnapMap. Оптическое представление помогает быстро выделить интересующие области при создании сфокусированного XPS-изображения для дальнейшей детализации вашего эксперимента.
1. Рентгеновские лучи освещают небольшую область на образце.
2. Фотоэлектроны с этой небольшой области собираются и фокусируются в анализаторе
3. Спектры непрерывно регистрируются по мере перемещения платформы
4. Положение платформы отслеживается на протяжении всего сбора данных, позиции используются для создания моментальной карты
Области применения:
- источники питания (батареи);
- биоповерхности;
- катализаторы;
- керамика;
- стеклянные покрытия;
- графен;
- металлы и оксиды;
- наноматериалы;
- OLED-дисплеи;
- полимеры;
- полупроводники;
- cолнечные элементы;
- тонкие пленки.